O mikroskopu Tescan Amber X

Centrálním přístrojem Laboratoře speciální mikroskopie je vysokorozlišovací rastrovací elektronový mikroskop TESCAN AMBER X, kombinovaný s plazmovým fokusovaným iontovým svazkem (Xe Plasma FIB). Tento špičkový systém umožňuje pokročilou mikrostrukturní analýzu široké škály materiálů a slouží jako nástroj pro výzkum, výuku i školení napříč materiálově orientovanými obory.

Mikroskop je vybaven Schottkyho emisní katodou s vysokým jasem, která umožňuje zobrazování s rozlišením až 0,9 nm při urychlovacím napětí 15 keV, 1,5 nm při 1 keV a 0,8 nm ve STEM režimu. Díky režimu zpomalení svazku je dosaženo rozlišení až 1,3 nm i při nízkých napětích. Rozsah urychlovacího napětí se pohybuje od 50 eV do 30 keV a proud svazku lze nastavit v rozmezí od 2 pA do 400 nA. Mikroskop je schopen pracovat také v režimu nízkého vakua až do 500 Pa, což umožňuje analýzu nevodivých nebo citlivých vzorků bez nutnosti vodivého povlaku. Součástí přístroje je unikátní rocking stage, tedy naklápěcí držák vzorků, který výrazně usnadňuje získání kvalitních dat pro 3D FIB-SEM tomografii a omezuje vznik artefaktů při rekonstrukcích objemových struktur.

Detekční systém zahrnuje širokou škálu detektorů: sekundární elektronový detektor s extrakční čočkou (Everhart-Thornley) a detektor zpětně odražených elektronů  (LBSE), dále in-lens SE a BSE detektory pro vysokokontrastní zobrazování s vysokým rozlišením, a také analytické detektory EDS a EBSD od společnosti Oxford Instruments, které slouží k chemické analýze prvkového složení, fázové identifikaci a krystalografické charakterizaci. Přístroj je rovněž vybaven nano-manipulátorem, který umožňuje přípravu lamel, precizní manipulaci a provádění mikrooperací přímo v komoře.

TESCAN AMBER X je klíčovým nástrojem pro detailní charakterizaci kovů, keramiky, kompozitních materiálů, vrstev, porézních struktur i degradovaných materiálů. Je určen pro analýzy mikrostruktury, chemického složení, krystalografie i mechanických vlastností v nanometrickém měřítku.